GT-3000 高速分立器件测试系统

      GT-3000 是专为中小功率半导体分立器件设计的高速测试系统，精准测量三极管、场效应管、二极管及晶圆等器件。
      系统采用四象限电路拓扑与悬浮电源全对称结构，为被测器件提供全面保护。
      0.5% 的测试精度搭配业界领先的测试速度，可轻松满足 UPH 60K 以上分选机的产能要求。
      最大支持1200V电压，最大电流支持3A/30A(可选)。
      整机最多支持四个测试站，支持一拖二并行测试，无缝兼容 FT 与 QA 测试环节，还可扩展电容测试、LDO、简单IC 等特殊器件测试，是半导体封装、测试及自动化分选产线的核心保障。

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参数

GT-3000 高速分立器件测试系统

产品概述

GT-3000 是专为中小功率半导体分立器件设计的高速测试系统，精准测量三极管、场效应管、二极管及晶圆等器件。系统采用四象限电路拓扑与悬浮电源全对称结构，为被测器件提供全面保护；0.5% 的测试精度搭配业界领先的测试速度，可轻松满足 UPH 60K 以上分选机的产能要求。最大支持1200V电压，最大电流支持3A/30A(可选)。整机最多支持四个测试站，支持一拖二并行测试，无缝兼容 FT 与 QA 测试环节，还可扩展电容测试、LDO、简单IC 等特殊器件测试，是半导体封装、测试及自动化分选产线的核心保障。

核心技术参数

名称	GT-3000 高速分立器件测试系统
偏置能力（电流）	MAX ±30A
偏置能力（电压）	MAX ±1200V
偏置精度（电流）	0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5nA
偏置精度（电压）	0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5mV
测试通道	6+6 路
测试器件	三极管、场效应管、二极管、晶圆等模拟分立器件
测量精度	0.5%
量程选择（电流测量）	30A / 3A / 300mA / 30mA / 3mA / 300μA / 30μA / 3μA / 300nA / 30nA / 3nA
量程选择（电压测量）	1200V / 300V / 30V / 3V / 300mV
量程选择（电流偏置）	30A / 3A / 300mA / 30mA / 3mA / 300μA / 30μA
量程选择（电压偏置）	1200V / 300V / 30V / 3V
测量分辨率	16 bit ADC/DAC
硬件配置	GVI-3A 四象限偏置测量板 6+6 块、GVI-30A 四象限扩流板 1+1 块、MUX 继电器复用板 1+1块、CHB 测试机与 Handler 接口板 1+1 块、GT-HS6 测试站 4 个、中频电源（DMPS-3000）一套、工业控制 PC 机一套
外形尺寸（测试主机）	600mm（宽）× 600mm（深）× 1200mm（高）
外形尺寸（测试站）	110mm（宽）× 340mm（深）× 210mm（高）
电源输入	AC 220V（可选其它电压）/10A；50Hz/60Hz
波形记录	波形捕获 100K/1M/10M 可选，采样深度 1024KB
外部接口	输入信号 5 路（含 TEST START）、输出信号 5 路（含 TEST END）、分类信号 24 路（BCD/BIN 250 分类，可串口输出）
操作系统	Windows 10（工业控制 PC + 液晶显示器）